LS 13 320 XR - 입도분석기

입자 크기 분석에서 미세한 차이를 발견할 수 있는 획기적인 개선

LS 13 320 XR은 향상된 PIDS 기술*을 통해 동급 최고의 입자 크기 분포 데이터를 제공하여 고해상도 측정 및 확장된 동적 범위를 구현합니다. XR 입도분석기는 LS 13 320과 마찬가지로 빠르고 정확한 입자 크기 분석 결과를 제공하며 워크플로우를 간소화하여 효율성을 최적화합니다. 대폭 개선된 기능으로 입자 크기 측정 방법을 개선할 수 있습니다.

또한 사용하기 쉬운 입도분석기 사용법으로 전문가 및 초보자 모두 간편하게 사용할 수 있습니다.

 

  • 10nm – 3,500µm 사이의 직접 측정 범위
  • PASS/FAIL 결과를 자동으로 강조하여 보다 신속한 품질 관리
  • 표준화된 측정을 위해 분석법 생성을 간소화한 향상된 소프트웨어
  • 장비/모듈 성능을 적절히 검증하기 위한 새로운 제어 표준

관련 문서 및 응용 분야 자료

LS 13 320 XR 제품 특징

미세한 차이 인식

  • 확장된 측정 범위: 10nm – 3,500µm
  • 레이저 회절 및 Polarization Intensity Differential Scattering (PIDS) 기술로 10nm까지 실제 데이터의 고해상도 측정 및 보고 가능
  • 단일 시료에서 여러 입자 크기를 정확하고 안정적으로 감지

사용하기 쉬운 소프트웨어

  • 자동 PASS/FAIL 검사 기능이 포함된 ADAPT 소프트웨어
  • 사전에 작성된 방법을 통해 3회 이하의 클릭만으로 결과가 제공됩니다.
  • 전문가 및 초보 사용자 모두에게 간편한 장비사용법
  • 클릭 한 번으로 과거 데이터 오버레이
  • 직관적인 사용자 진단으로 샘플링 진행 중에도 정보 제공
  • 표준화된 측정을 위한 간소화된 분석법 생성

21 CFR Part 11 지원을 구현하는 ADAPT 소프트웨어

  • 다양한 요구를 충족시키는 맞춤형 보안 시스템
  • 4가지 보안 수준에서 선택
  • 높은 보안 구성으로 21 CFR Part 11 지원

10nm 입자의 직접 감지를 위한 PIDS 기술*

  • 3개의 광 파장(450, 600 및 900nm)이 수직 및 수평 편광으로 시료를 측정합니다.
  • 분석기는 다양한 각도에서 시료의 산란 광을 측정합니다.
  • 각 파장에 대한 수평 및 수직 복사 광의 차이는 고해상도 입자 크기 분포 데이터를 산출합니다.

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기술문서

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